紫外可見分光光度計

產品介紹

756S上海棱光紫外可見分光光度計特點：

1、波長精度高：內置的光譜特征波長可自動進行波長檢測和校正，保證波長的準確度與長期穩定性。

2、雜散光低：萬分之五以下的雜散光水平，滿足用戶對高吸光度類樣品的測量需求。

3、光度精度高：整體鋁合金壓鑄模具技術，確保光學光路符合測量設計要求，提高工藝裝配效率，確保儀器達到高光度精度測試指標。

4、高速掃描：掃描速度多級可選，采用高精密波長驅動機構、高精度步進電機細分技術和高速數字信號處理技術，使波長掃描速度達到 7000nm/min，波長移動速度達到 10000nm/min。高速掃描可捕捉樣品瞬間的光譜變化，提高工作測試效率。

5、單機 U 盤存儲：配備 U 盤存儲功能，將單機測試的定量數據存儲于 U 盤中，文件格式兼容 Excel 等應用軟件，方便用戶管理數據。

6、單機定量分析功能豐富：電子系統采用 32 位 ARM 核處理器系統，配備 128*64大屏幕液晶顯示，單機定量分析功能可進行多波長測試，標準曲線擬合與測量，標準系數方程輸入，標準方程讀取與存儲，數據存儲與打印，濃度定量測試等。

7、軟件功能強大：軟件可實現光譜掃描，時間掃描，動力學測試，定量分析，多波長分析及公式計算，圖譜處理，峰谷查找，打印數據，DNA/RNA 測試，儀器校準，性能驗證等多種功能，滿足不同分析領域的各種需求。可選配審計追蹤功能（具有多級管理權限），3Q 認證服務。

756S紫外可見分光光度計技術參數：

光學系統：衍射光柵 C-T 單色器

光源：氘燈（500 小時壽命）+鎢燈

顯示：128*64 大屏幕液晶

測量模式：波長掃描，時間掃描，定量分析，動力學，多波長分析

波長范圍：190nm~1100nm

帶寬：2nm±0.4nm

波長準確度：±0.5nm

波長重復性：≤0.2nm

透射比準確度：±0.5%T

透射比重復性：≤0.2%T

雜散光：≤0.1%T(220nm 處 Nal)

基線平直度：±0.002A

漂移：≤0.0008A

噪聲：≤0.5%T（100%T），≤0.2%T（0%T）

光度范圍： 0.0~200%（T），-0.3~4（A）

數據傳輸方式：USB-A(u 盤)，USB-B（聯機），串口（打印機）

數據存儲導出：U 盤文件格式支持 Excel

樣品槽：自動移動

儀器尺寸：370mm×357mm×220mm

重量：凈重 9Kg

標準配置：

1、主機 一臺

2、電源電纜 一根

3、使用說明書 一本

4、產品合格證明書 一份

5、熔絲（2A） 二只

6、1cm 玻璃比色皿 二盒（四只）

7、1cm 石英比色皿 一盒（二只）

8、1cm 光徑比色皿架 一付

9、裝箱單 一份

10、U 盤一個